| 发明名称 | 存储器单元的状态机感测 | ||
| 摘要 | 本发明包括用于使用状态机(601)来感测存储器单元(613)的方法、装置、模块及系统。一个方法实施例包括根据状态机(601)的第一输出而产生第一感测参考(541、571、693、993A、993B、993C、993D)。所述方法包括以所述第一感测参考(541、571、693、993A、993B、993C、993D)将存储器单元(613)可编程到的可能的编程电平(530、531、532、533、560、561、562、563)的范围分成两部分。所述方法还包括根据所述状态机(601)的第二输出而产生第二感测参考(543、547、573、577、693、993A、993B、993C、993D)。所述方法进一步包括以所述第二产生的感测参考(543、547、573、577、693、993A、993B、993C、993D)来确定所述存储器单元(613)的编程电平(530、531、532、533、560、561、562、563)。 | ||
| 申请公布号 | CN102017007B | 申请公布日期 | 2014.12.10 |
| 申请号 | CN200980116375.1 | 申请日期 | 2009.03.20 |
| 申请人 | 美光科技公司 | 发明人 | 马炎涛;刘峻 |
| 分类号 | G11C16/26(2006.01)I;G11C16/34(2006.01)I | 主分类号 | G11C16/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人 | 宋献涛 |
| 主权项 | 一种用于感测电阻可变存储器单元(613)的方法，其包含：根据状态机(601)的第一输出而产生第一感测参考；以所述第一感测参考将存储器单元(613)可编程到的可能的编程电平(530、531、532、533、560、561、562、563)的范围分成两部分；根据所述状态机(601)的第二输出而产生第二感测参考；以及以产生的第二感测参考来确定所述存储器单元(613)的编程电平(530、531、532、533、560、561、562、563)。 | ||
| 地址 | 美国爱达荷州 | ||