| 发明名称 | 光电鼠标IC成像性能测试组件 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了光电鼠标IC成像性能测试组件，解决了传统测试中IC及成像面都是固定的，因而只能进行功能测试的问题。本实用新型包括用于吸取IC的取料机械手（1），用于放置IC的测试平台（2），以及用于IC功能测试的测试机构（3），其特征在于：还包括位于测试平台（2）下方的成像测试旋转机构；所述成像测试旋转机构主要由位于测试平台（2）下方的成像旋转板（4）、和驱动成像旋转板（4）转动的电机（5）组成。本实用新型在功能测试的基础上增加成像性能测试，且具有测试效果准确、结构简单等优点。 | ||
| 申请公布号 | CN204008990U | 申请公布日期 | 2014.12.10 |
| 申请号 | CN201420364228.4 | 申请日期 | 2014.07.02 |
| 申请人 | 深圳市矽旺半导体有限公司 | 发明人 | 郭军 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市中闻律师事务所 11388 | 代理人 | 王新发;常亚春 |
| 主权项 | 光电鼠标IC成像性能测试组件，包括用于吸取IC的取料机械手（1），用于放置IC的测试平台（2），以及用于IC功能测试的测试机构（3），其特征在于：还包括位于测试平台（2）下方的成像测试旋转机构；所述成像测试旋转机构主要由位于测试平台（2）下方的成像旋转板（4）、和驱动成像旋转板（4）转动的电机（5）组成。 | ||
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区高新技术园北区清华信息港B座601室 | ||