一种大口径光学元件表面灰尘与麻点识别方法

摘要

本发明公开了一种大口径光学元件表面灰尘与麻点识别方法，该方法包括如下步骤：利用图像采集装置在明场条件下采集大口径光学元件表面损伤图像作为样本图像，同时标记出每个样本图像对应的损伤类别；对于采集得到的样本图像提取特征向量；对得到的特征向量进行预处理；将预处理后的特征向量作为模式识别分类器的输入变量，相应的损伤类别标签作为所述模式识别分类器的输出变量，得到输入变量与输出变量之间的映射关系；基于映射关系，对于测试样本的损伤类别进行识别，并将识别结果输出。本发明采用模式识别方法从明场图像纹理特征入手，解决了大口径光学元件表面灰尘与麻点的自动判别问题。

主权项

一种大口径光学元件表面灰尘与麻点识别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1：利用图像采集装置在明场条件下采集大口径光学元件表面损伤图像作为样本图像，同时标记出每个样本图像对应的损伤类别；步骤2：对于采集得到的样本图像提取特征向量；步骤3：对得到的特征向量进行预处理；步骤4：将预处理后的特征向量作为模式识别分类器的输入变量，相应的损伤类别标签作为所述模式识别分类器的输出变量，得到输入变量与输出变量之间的映射关系；步骤5：基于所述步骤4得到的映射关系，对于测试样本的损伤类别进行识别，并将识别结果输出。