发明名称 | 基于双干涉仪的自由落体绝对重力测量方法及系统 | ||
摘要 | 本发明提供了一种基于双干涉仪的自由落体绝对重力测量系统,设置有上下对称的干涉仪,所述干涉仪包括固定棱镜、活动棱镜和分光镜,通过相同频率的激光光源照射所述干涉仪分别发生干涉;上、下活动棱镜设置在同一个落体内,上、下活动棱镜的光心相距预定距离,在垂直方向上落体质心位于两个所述光心中间。本系统能够消除落体偏摆对自由落体绝对重力测量精度的影响。本发明同时还提供了一种基于双干涉仪的自由落体绝对重力测量方法。 | ||
申请公布号 | CN104199116A | 申请公布日期 | 2014.12.10 |
申请号 | CN201410455839.4 | 申请日期 | 2014.09.09 |
申请人 | 中国计量科学研究院 | 发明人 | 冯金扬 |
分类号 | G01V7/14(2006.01)I | 主分类号 | G01V7/14(2006.01)I |
代理机构 | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人 | 尹振启 |
主权项 | 基于双干涉仪的自由落体绝对重力测量系统,设置有上下对称的干涉仪,所述干涉仪包括固定棱镜、活动棱镜和分光镜,通过相同频率的激光光源照射所述干涉仪分别发生干涉;上、下活动棱镜设置在同一个落体内,上、下活动棱镜的光心相距预定距离,在垂直方向上落体质心位于两个所述光心中间。 | ||
地址 | 100013 北京市朝阳区北三环东路18号 |