测试模块

摘要

本发明揭露一种测试模块，包括一测试盘及一测试基板，运用测试盘上的导体，使芯片测试机的测试基板能一次对齐所有芯片，在同一时间做检测，其减少工艺大量的工时，并增加测试者的收益，亦会对后续产品的进度产生正向效益。

主权项

一种测试模块，包括一测试盘及一测试基板，其特征在于：该测试盘具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于该测试盘的上表面；多个导体，贯穿该放置槽内，并于该放置槽的上表面上形成一上垫接点，于该放置槽的下表面上形成一下垫接点；该测试基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，配置于该测试盘下方；及多个检测区，形成于该测试基板的上表面，每该检测区具有多个检测点，每该检测接点相对于每个下垫接点。