发明名称 半导体装置
摘要 本发明的课题是在于使半导体装置的可靠度提升。其解决手段是半导体装置(PKG)具有:绝缘性的基材(BS),其系具有贯通孔(SH);端子(TE),其系形成于基材(BS)的下面(BSb);及半导体晶片(CP),其系面朝上(Face Up)搭载于基材的上面(BSa)上。更具有:接线(BW)等的导电性构件,其系电性连接从基材(BS)的贯通孔(SH)露出的端子(TE)的露出面(EX)及半导体晶片(CP)的焊垫(PD);及密封体(MR),其系密封该导电性构件,基材(BS)的贯通孔(SH)的内部,及半导体晶片(CP)。从基材(BS)的贯通孔(SH)露出的端子(TE)的露出面(EX)是在接合接线(BW)等的导电性构件的接合部以外的领域设有固定手段(anchor)。
申请公布号 TW201445690 申请公布日期 2014.12.01
申请号 TW103107631 申请日期 2014.03.06
申请人 瑞萨电子股份有限公司 发明人 大谷内贤治;和田环;森永优一
分类号 H01L23/488(2006.01);H01L21/60(2006.01) 主分类号 H01L23/488(2006.01)
代理机构 代理人 <name>林志刚</name>
主权项
地址 日本