非信令天线TRP测试方法及测试系统

摘要

本发明涉及一种非信令天线TRP测试方法及测试系统，它属于手机的天线总辐射功率的测试装置和测试方法技术领域，它包括一个暗室，搁置被测终端的转台，计算机主机和由计算机主机控制的频谱分析仪以及通讯控制接口总线，暗室中还设置有暗室测量天线和暗室通信天线；使用工具或者工程模式命令,让待测终端持续发送信息；并使得被测终端在转台上依次运动到不同的转台方位角Theta角度和倾斜角Phi角度，同时调整测试的测量天线极化方向的每个角度进行测试，得每个测试点的有效辐射功率ERP；将有效辐射功率ERP补偿上暗室的路径损耗进行积分计算既得天线总辐射功率TRP。本发明显著提升测试的稳定性和可靠性和测试效率，也可节约测试的成本。

主权项

一种非信令天线TRP测试方法，它包括如下的步骤：A：测试之前,使用工具或者工程模式命令,将待测终端进入待测的通信模式/通信频段/通信信道的非信令持续发射模式之后,待测终端持续开始发送信息；B：将终端放置在暗室转台上C：将终端依次运动到不同的转台方位角Theta角度和倾斜角Phi角度，同时调整测试的测量天线极化方向的每个角度；每个Theta/Phi角度上，调整两次测量天线水平极化位置和垂直极化位置；D：在每个测试转台Theta/Phi角度和测量天线方向上，测试系统将测试终端的的的功率,测出的值即为该测试位置的有效辐射功率ERP；逐个获得每个测试点的的有效辐射功率ERP；F：在获得每个测试点的有效辐射功率ERP以后，将有效辐射功率ERP补偿上暗室的路径损耗进行积分计算，既可以获得最终的天线总辐射功率TRP；计算公式如下：$\mathrm{TRP}\cong \frac{\pi }{2\mathrm{NM}}\underset{i=0}{\overset{N-1}{\Sigma }}\underset{j=0}{\overset{M-1}{\Sigma }}[{\mathrm{ERP}}_{\theta }({\theta }_i,{\phi }_j)+{\mathrm{ERP}}_{\phi }({\theta }_i,{\phi }_j)]\sin \left({\theta }_i\right)···$这里N指的是转台方向角Theta方向的测试点数如果30⁰一步长，N＝6，M指的是转台倾斜角Phi方向的测试点数，30⁰一步长，M＝12。……………