发明名称 |
一种增强型MIS结构AlGaN/GaN异质结场效应晶体管 |
摘要 |
本发明公开了一种增强型MIS结构的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管。这种新结构是在晶体管2DEG所在的高阻GaN层的源端到栅电极部分使用P型掺杂的GaN,于是在栅压为零时,由于P型GaN与2DEG界面处势垒的阻挡作用使得电子无法到达源电极实现器件导通,器件处于关断状态;当栅极加正电压时,栅极下的2DEG浓度提高,使其能带高度下降,随着电压进一步增大,2DEG能带高度进一步下降,2DEG与P型GaN的势垒厚度也不断减小,直到在漏源电压的作用下发生遂穿,实现器件导通。 |
申请公布号 |
CN104167441A |
申请公布日期 |
2014.11.26 |
申请号 |
CN201410369885.2 |
申请日期 |
2014.07.30 |
申请人 |
西安电子科技大学 |
发明人 |
段宝兴;袁嵩;杨银堂 |
分类号 |
H01L29/778(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/778(2006.01)I |
代理机构 |
西安智邦专利商标代理有限公司 61211 |
代理人 |
胡乐 |
主权项 |
一种增强型MIS结构AlGaN/GaN异质结场效应晶体管,包括半绝缘衬底、缓冲层、GaN层、AlGaN层、源极、栅极、漏极以及栅介质层,源极和漏极均通过欧姆接触与GaN层、AlGaN层相连;其特征在于:所述GaN层在靠近电极一侧有一部分区域为P型掺杂GaN,对应于自源极至部分栅极所覆盖的区域。 |
地址 |
710071 陕西省西安市太白南路2号 |