发明名称 |
采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的装置及方法 |
摘要 |
一种采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的装置及方法,属于微纳米结构加工领域。为了解决复杂三维微纳米结构加工问题,所述装置包括AFM、X方向精密工作台、Y方向精密工作台,X方向精密工作台底座固连在在Y方向精密工作台的滑块上,X方向定位工作台的滑块进行X方向运动,Y方向精密工作台底座固连在AFM样品台上,Y方向定位工作台的滑块进行Y方向运动。本发明提出的三种方法分别通过对同一套商用AFM以及高精度定位平台系统的不用控制和参数设置,实现采用AFM探针纳米刻划技术加工复杂三维微纳米结构的加工。本发明能够在较低成本下解决复杂三维微纳米结构的加工问题,且方法简单,装置及加工实现成本相对较低。 |
申请公布号 |
CN104150433A |
申请公布日期 |
2014.11.19 |
申请号 |
CN201410385711.5 |
申请日期 |
2014.08.07 |
申请人 |
哈尔滨工业大学 |
发明人 |
于博文;耿延泉;闫永达;赵学森;胡振江 |
分类号 |
B81C1/00(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I |
主分类号 |
B81C1/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的装置,其特征在于所述装置包括AFM、X方向精密工作台、Y方向精密工作台,X方向精密工作台底座固连在在Y方向精密工作台的滑块上,Y方向精密工作台底座固连在AFM样品台上。 |
地址 |
150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |