发明名称 半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
摘要 本发明之半导体装置包括:半导体基板,其具有第1面;主体区域,其位于半导体基板,且位于与第1面接触之位置;闸极绝缘膜,其与主体区域接触地位于第1面上;闸极电极,其位于闸极绝缘膜上;第1绝缘体膜,其覆盖闸极电极之侧面之至少一部分;接触区域,其与第1面接触地位于主体区域内、且在相对于第1面之俯视下与闸极电极不同之位置;及第2绝缘体膜,其包含与第1绝缘体膜之材料不同之材料,位于主体区域、闸极电极及第1绝缘体膜上,且于接触区域上具有接触孔。
申请公布号 TW201444091 申请公布日期 2014.11.16
申请号 TW103113571 申请日期 2014.04.14
申请人 精工爱普生股份有限公司 发明人 古田智之
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 <name>陈长文</name>
主权项
地址 日本
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