| 发明名称 |
TESTING FUSE CONFIGURATIONS IN SEMICONDUCTOR DEVICES |
| 摘要 |
Methods, systems, and apparatus for testing semiconductor devices. |
| 申请公布号 |
US2014333341(A1) |
申请公布日期 |
2014.11.13 |
| 申请号 |
US201414250191 |
申请日期 |
2014.04.10 |
| 申请人 |
RAMBUS INC. |
发明人 |
Ong Adrian E.;Fuller Paul;Heel Nick van;Thomann Mark |
| 分类号 |
G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
1. (canceled) |
| 地址 |
Sunnyvale CA US |
