| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (10) und ein Verfahren zur optischen Analyse eines PCBs (Printed Circuit Board - Leiterplatte) (12), wobei eine Bilderfassungseinrichtung (14) Farbteilbildinformationen eines von einer Lichtquelleneinrichtung (16) auf einer Oberfläche des PCBs (12) reflektierten Lichts (22) und/oder durch das PCB (12) durchstrahlendes Licht (24) getrennt nach Grundfarben erfasst, und eine Bildverarbeitungseinrichtung (18) zumindest eine Farbteilbildinformation, insbesondere zwei oder mehrere Teilbildinformationen, in Analysebildinformationen umwandelt, wonach die Analysebildinformationen mit Referenzbildinformationen verglichen und PCB-Fehler erkannt werden, so dass eine PCB-Herstellqualität bestimmbar ist. Die diesbezügliche Vorrichtung (10) umfasst eine Bilderfassungseinrichtung (14), eine Lichtquelleneinrichtung (16), eine Bildverarbeitungseinrichtung (18) und eine PCB-Aufnahmeeinrichtung (20). Durch eine Kombination und Analyse der verschiedenen Farbteilbilder können Fehler auf dem PCB eindeutig und mit hoher Genauigkeit in einem schnellen Analyseverfahren detektiert werden.</p> |
