发明名称 |
一种利用化学蚀刻的GaN基板的制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种利用化学蚀刻的GaN基板的制作方法。所述制作方法为:低温GaN层在基板上部生长;在低温GaN层上生长高温GaN层;把已经生长了高温GaN层的基板泡在蚀刻溶液中;低温GaN层经蚀刻后消融,则高温GaN层从基板上自然分离,即得GaN基板。本发明是在低温下利用HVPE的方法生长GaN后,高温下GaN厚膜生长完成后做化学蚀刻,再加上利用蚀刻反应形成低温GaN层的界面空隙,由GaN自发分离制作自支撑GaN基板。本发明利用化学的反应,最小化对GaN厚膜的损坏,工艺简单,节约资源,降低生产成本。 |
申请公布号 |
CN104134608A |
申请公布日期 |
2014.11.05 |
申请号 |
CN201410382375.9 |
申请日期 |
2014.08.06 |
申请人 |
上海世山科技有限公司;上海正帆科技有限公司 |
发明人 |
金施耐;许桢;金东植 |
分类号 |
H01L21/20(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/20(2006.01)I |
代理机构 |
上海申汇专利代理有限公司 31001 |
代理人 |
翁若莹 |
主权项 |
一种利用化学蚀刻的GaN基板的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1):低温GaN层(2)在基板(1)上部生长;步骤2):在低温GaN层(2)上生长高温GaN层(3);步骤3):把已经生长了高温GaN层(3)的基板(1)泡在蚀刻溶液中;步骤4):低温GaN层(2)经蚀刻后消融,则高温GaN层(2)从基板(1)上自然分离,即得GaN基板。 |
地址 |
201108 上海市闵行区春中路56号121-122室 |