发明名称 |
双光路系统交互校正方法及使用该方法的光学系统 |
摘要 |
本发明公开了一种双光路系统交互校正方法及使用该方法的光学系统。该光学系统具有一第一光学子系统、一第二光学子系统及一交互校正模块。该交互校正模块接收来自该第一光学子系统的第一影像数据及该第二光学子系统的第二影像数据,并根据选定的该第二光学子系统的至少一光学参数,修正该第一影像数据,以及根据选定的该第一光学子系统的至少一光学参数,修正该第二影像数据,其中被选定的该第一及第二光学子系统的光学参数不相同。本发明实施例通过上述的交互校正方法及实施该交互校正方法的光学系统,即可自不同光学系统或光学子系统获得均一的影像数据。 |
申请公布号 |
CN102540477B |
申请公布日期 |
2014.11.05 |
申请号 |
CN201110001308.4 |
申请日期 |
2011.01.05 |
申请人 |
大立光电股份有限公司 |
发明人 |
林恩平;陈星嘉;李敏哲 |
分类号 |
G02B27/10(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I |
主分类号 |
G02B27/10(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
任默闻 |
主权项 |
一种具有双光路光学系统,其特征在于,所述具有双光路光学系统包括:一第一光学子系统;一第二光学子系统,所述第二光学子系统的后焦距与所述第一光学子系统的后焦距相等;一光路选择元件,选择性具有一光反射状态及一光通过状态;一第一反射镜组,设置于所述第一光学子系统的像侧,用以弯折所述第一光学子系统的光线至所述光路选择元件;一第二反射镜组,设置于所述第二光学子系统的像侧,用以弯折所述第二光学子系统的光线至所述光路选择元件;一感测器,用以取得所述第一光学子系统成像于所述感测器的一第一影像数据及所述第二光学子系统成像于所述感测器的一第二影像数据,且当所述光路选择元件呈所述光反射状态时,所述第一光学子系统的光线成像于所述感测器上而所述第二光学子系统的光线成像于非所述感测器的其他处;当所述光路选择元件呈所述光通过状态时,所述第二光学子系统的光线成像于所述感测器上而所述第一光学子系统的光线成像于非所述感测器的其他处;及一交互校正模块,接收来自所述感测器的所述第一影像数据及所述第二影像数据,并根据选定的所述第二光学子系统的至少一光学参数,修正所述第一影像数据,以及根据选定的所述第一光学子系统的至少一光学参数,修正所述第二影像数据,其中被选定的所述第一及第二光学子系统的光学参数不相同。 |
地址 |
中国台湾台中市 |