发明名称 |
串列式快闪记忆体的抹除方法 |
摘要 |
一种串列式快闪记忆体的抹除方法,至少包括以下步骤:提供欲抹除的区块,其中上述区块包括N个扇区;对区块执行前程式化程序;施加抹除脉冲于区块;选择N个扇区之最先者做为待测扇区;判断待测扇区是否通过扇区抹除验证;若是,检查待测扇区的复数个位元组记忆单元,并将待测扇区的扇区地址储存于暂存器中;若否,选择N个扇区之下一者以更新待测扇区,并检查暂存器,移除N个扇区中已通过扇区抹除验证之扇区的复数个字元线的负偏压,且施加抹除脉冲于区块。 |
申请公布号 |
TWI459392 |
申请公布日期 |
2014.11.01 |
申请号 |
TW100127176 |
申请日期 |
2011.08.01 |
申请人 |
华邦电子股份有限公司 台中市大雅区科雅一路8号 |
发明人 |
柳弼相 |
分类号 |
G11C16/14 |
主分类号 |
G11C16/14 |
代理机构 |
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代理人 |
洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼 |
主权项 |
一种串列式快闪记忆体的抹除方法,包括以下步骤:(a)提供欲抹除的一区块,其中上述区块包括N个扇区,N为一正整数;(b)对上述区块执行一前程式化程序;(c)施加一抹除脉冲于上述区块;(d)选择上述N个扇区之最先者做为一待测扇区;(e)判断上述待测扇区是否通过一扇区抹除验证;(f)若上述待测扇区通过上述扇区抹除验证,检查上述待测扇区的复数个位元组记忆单元,并将上述待测扇区的一扇区地址储存于一暂存器中;(g)若上述待测扇区未通过上述扇区抹除验证,选择上述N个扇区之下一者以更新上述待测扇区,直至上述N个扇区之最后者为止,并检查上述暂存器,移除上述N个扇区中已通过上述扇区抹除验证之扇区的复数个字元线的一负偏压,且施加上述抹除脉冲于上述区块,然后执行步骤(e);(h)检查上述暂存器以判断是否上述N个扇区皆通过上述扇区抹除验证;以及(i)若上述N个扇区皆通过上述扇区抹除验证,对上述区块执行一后程式化程序。 |
地址 |
台中市大雅区科雅一路8号 |