发明名称 转塔式检测机台及其使用方法
摘要 一种转塔式检测机台及其使用方法,转塔式检测机台包括:转塔模块、进料模块、第一外观检测模块、180度转向模块、电性测试模块、第二外观检测模块及出料模块。转塔模块包括一可旋转式机构及多个可升降式吸嘴机构。进料模块上具有多个电子元件,且电子元件通过进料模块以传送至可升降式吸嘴机构的下方,以供可升降式吸嘴机构来进行吸取。第一外观检测模块用于检查每一个电子元件的第一预定外观。180度转向模块用于将电子元件水平地旋转180度。电性测试模块用于检测每一个电子元件的电气性能。第二外观检测模块用于检查每一个电子元件的第二预定外观。出料模块用于将每一个电子元件传送至一收纳料带内。
申请公布号 CN104124182A 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201310144825.6 申请日期 2013.04.24
申请人 久元电子股份有限公司 发明人 汪秉龙;陈桂标;陈信呈;杨政伟;黄劔麒
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 赵根喜;吕俊清
主权项 一种转塔式检测机台,其特征在于,包括:一转塔模块,所述转塔模块包括一可旋转式机构及多个沿着所述可旋转式机构的周围依序排列的可升降式吸嘴机构;一进料模块,所述进料模块邻近所述转塔模块,且所述进料模块上具有多个电子元件,其中每一个所述电子元件具有一封装壳体及多个外露于所述封装壳体的导电引脚,且每一个所述电子元件通过所述进料模块以传送至相对应的所述可升降式吸嘴机构的下方,以供相对应的所述可升降式吸嘴机构来进行吸取;一第一外观检测模块,所述第一外观检测模块邻近所述转塔模块及所述进料模块,以用于检查每一个所述电子元件的第一预定外观;一180度转向模块,所述180度转向模块邻近所述转塔模块与所述第一外观检测模块,以用于将所述电子元件水平地旋转180度;一电性测试模块,所述电性测试模块邻近所述转塔模块与所述180度转向模块,以用于检测每一个所述电子元件的电气性能;一第二外观检测模块,所述第二外观检测模块邻近所述转塔模块与所述电性测试模块,以用于检查每一个所述电子元件的第二预定外观;以及一出料模块,所述出料模块邻近所述转塔模块与所述第二外观检测模块,以用于将每一个所述电子元件传送至一收纳料带内。
地址 中国台湾新竹市
您可能感兴趣的专利