发明名称 电子设备未能通过静电放电抗扰度试验的调整方法
摘要 电子设备未能通过静电放电抗扰度试验的调整方法,针对电子设备没通过静电放电抗扰度试验,提出3种简单、易用的调整方法,本发明是一种简单、可靠,在改动电子设备内部电路不大情况下的一种事后补救措施,在实际应用过程中,考虑整改方法的交叉、整合和灵活运用,能够对一些设备通过静电放电抗扰度试验提供一些技术参考,具有较高的应用价值。
申请公布号 CN102645598B 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201210123849.9 申请日期 2012.04.25
申请人 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院;云南电网公司技术分公司 发明人 丁心志;毕志周;王恩;翟少磊;唐标
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R31/12(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 昆明大百科专利事务所 53106 代理人 何健
主权项 电子设备未能通过静电放电抗扰度试验的调整方法,其特征在于,调整方法分为三步进行,第一步:当进行静电放电抗扰度试验,首先查看电子设备是否能够通过该试验;第二步:当静电放电抗扰度试验没有通过,查看电子设备究竟是直接放电没通过,还是间接放电没通过;第三步:针对直接放电没通过的三种现象,确定最终调整方案1、调整方案2、调整方案3,针对对间接放电没通过的三种现象,确定最终三种调整方案1、调整方案2、调整方案3,调整方案1‑3主要依据屏蔽、接地、滤波多种手段对电子设备进行保护,从而达到通过静电放电抗扰度试验的目的;所述三种现象具体为:现象1为屏幕重启,现象2为屏幕乱码或不停抖动,现象3为设备损坏;其中:所述的静电放电抗扰度试验依据GB/T 17626.2‑2006 《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》,所述的直接放电指电子设备通过±8kV的接触放电,所述的间接放电指电子设备通过±15kV的空气放电;所述的调整方案1是指采用三个电容并联在电子设备主芯片复位端子与芯片数字地或模拟地之间,电容分别为0.1uF、10uF、100uF,复位信号电位通过限流电阻拉升至高电位;所述的调整方案2是指采用硅胶、螺钉、支撑柱构成,螺钉采用塑料螺钉,支撑柱采用绝缘材料,螺钉拧在支撑柱里,螺钉上面涂上硅胶,以保持与外壳高度一致,防止螺钉凹陷下去,同时如果电子设备有开关电源模块,在控制板与电源板的接线上增设密封的铁氧体线圈;所述的调整方案3是指首先对电子设备损坏部分进行修复,然后采用在电源输入端并联合适的压敏电阻R1、R2、R3,压敏电阻R1与压敏电阻R2串联,R1与R2的连接端接大地,压敏电阻R3与串联压敏电阻R1、R2的回路并联。
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