发明名称 |
基于电荷陷阱的存储器 |
摘要 |
本发明涉及基于电荷陷阱的存储器。本发明描述制作3D电荷陷阱存储器单元的方法连同包含所述3D电荷陷阱存储器单元的设备及系统。在由导电及绝缘材料交替层形成的平面堆叠中,可形成大致垂直开口。在所述垂直开口内侧,可形成包括第一层、电荷陷阱层、穿隧氧化物层及外延硅部分的大致垂直结构。本发明还描述额外实施例。 |
申请公布号 |
CN104124251A |
申请公布日期 |
2014.10.29 |
申请号 |
CN201410291273.6 |
申请日期 |
2010.08.25 |
申请人 |
美光科技公司 |
发明人 |
尼马尔·拉马斯瓦米;古尔特杰·S·桑胡 |
分类号 |
H01L27/115(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/115(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
宋献涛 |
主权项 |
一种存储器装置,其包括:大致垂直结构,所述大致垂直结构至少包括电介质、电荷陷阱、穿隧氧化物及硅部分,所述大致垂直结构在开口内形成,所述开口在平面堆叠中形成,所述平面堆叠包括导电材料及绝缘材料的交替层,其中所述电荷陷阱与所述硅部分的一部分直接接触。 |
地址 |
美国爱达荷州 |