发明名称 一种光学材料透过率的测试系统及测试方法
摘要 本发明提供一种光学材料透过率的测试系统及测试方法。所述测试系统包括:光源,沿第一方向发射光线,获得用于测试的入射光;至少两个被测样品,第一被测样品用于接收入射光,且入射光相对于第一被测样品表面呈一角度,入射光穿透第一被测样品之后获得第一折射光;第二被测样品用于接收第一折射光,且使第一折射光穿透第二被测样品之后获得第二折射光,沿第二方向传输,其中第一方向与所述第二方向位于同一直线上,第一被测样品与第二被测样品的规格相同;探测器,用于接收第二折射光,检测获得第二折射光的光强I。通过放置两块被测样品,入射光经重复折射,可以测得样品在有角度入射时的透过率,解决有角度入射时的透过率测试问题。
申请公布号 CN104111238A 申请公布日期 2014.10.22
申请号 CN201310130954.X 申请日期 2013.04.16
申请人 烁光特晶科技有限公司 发明人 雷牧云
分类号 G01N21/59(2006.01)I 主分类号 G01N21/59(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 许静;黄灿
主权项 一种光学材料透过率的测试系统,其特征在于,所述测试系统包括:用于提供透过率测试照射光的光源,所述光源沿第一方向发射光线,获得用于测试的入射光;至少两个被测样品,第一被测样品用于接收所述入射光,且所述入射光相对于所述第一被测样品表面呈一角度,所述入射光穿透所述第一被测样品之后获得第一折射光;第二被测样品用于接收所述第一折射光,且使所述第一折射光穿透所述第二被测样品之后获得第二折射光,沿第二方向传输,其中所述第一方向与所述第二方向位于同一直线上,所述第一被测样品与所述第二被测样品的规格相同;探测器,用于接收所述第二折射光,检测获得所述第二折射光的光强I。
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