发明名称 | X射线与导轨平行系统 | ||
摘要 | 本发明涉及一种X射线与导轨平行系统,系统包括:X射线出射装置,具有X射线管;电离室调节装置,具有第一导轨,用于搭设电离室或面阵平板探测器,电离室或面阵平板探测器接收X射线;其中,当X射线照射在面阵平板探测器,调整X射线管的X射线出射位置,使得X射线的光束中心与面阵平板探测器中心重合;改变面阵平板探测器与X射线出射装置的相对距离,再次调整X射线管的X射线出射位置,使得X射线的光束中心再次与面阵平板探测器中心重合;继续调整X射线管的X射线出射位置,直到X射线的光束中心与面阵平板探测器中心一直重合,达到X射线与第一导轨平行。发明X射线与导轨平行系统实现了方便的X射线与导轨平行。 | ||
申请公布号 | CN104101892A | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
申请号 | CN201410325978.5 | 申请日期 | 2014.07.09 |
申请人 | 中国计量科学研究院 | 发明人 | 吴金杰;陈法君;蒋伟;李兵 |
分类号 | G01T1/00(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人 | 李楠 |
主权项 | 一种X射线与导轨平行系统,其特征在于,所述系统包括:X射线出射装置,具有X射线管,用于出射X射线;电离室调节装置,具有第一导轨,所述X射线出射装置位于所述电离室调节装置的一侧的对应位置,用于搭设电离室或面阵平板探测器,所述电离室或面阵平板探测器接收所述X射线;其中,当所述X射线照射在所述面阵平板探测器,调整所述X射线管的X射线出射位置,使得X射线的光束中心与面阵平板探测器中心重合;改变所述面阵平板探测器与所述X射线出射装置的相对距离,再次调整所述X射线管的X射线出射位置,使得X射线的光束中心再次与面阵平板探测器中心重合;继续调整所述X射线管的X射线出射位置,直到X射线的光束中心与面阵平板探测器中心一直重合,使得所述X射线与所述第一导轨平行。 | ||
地址 | 100029 北京市朝阳区北三环东路18号 |