发明名称 |
半导体装置的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种半导体装置,其特征在于,所述半导体装置具有半导体元件、被连接部件和连接所述被连接部件的连接部件,且所述连接部件为钎料,所述被连接部件在与所述连接材料连接的表面上形成有所述Ni层,所述连接部件为Sn类钎料,含有Cu6Sn5化合物和以Cu6Sn5之外的成分为主成分的Sn类钎料相,所述Ni层的与所述连接部件连接的区域被所述Cu6Sn5化合物被覆,所述Cu6Sn5化合物一方面与所述Sn类钎料相连接,另一方面通过所述Ni层与所述被连接部件连接。 |
申请公布号 |
CN102324405B |
申请公布日期 |
2014.10.15 |
申请号 |
CN201110265728.3 |
申请日期 |
2006.08.08 |
申请人 |
株式会社日立功率半导体 |
发明人 |
池田靖;中村真人;松吉聪;佐佐木康二;平光真二 |
分类号 |
H01L23/00(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I;B23K35/26(2006.01)I;H05K3/34(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 11256 |
代理人 |
杨宏军 |
主权项 |
一种半导体装置,其特征在于,所述半导体装置具有半导体元件、被连接部件和连接所述被连接部件的连接部件,且所述连接部件为钎料,所述被连接部件在与所述连接部件连接的表面上形成有Ni层,所述连接部件为Sn‑Cu二相钎料,含有Cu6Sn5化合物和以Cu6Sn5之外的成分为主成分的Sn类钎料相,所述Sn‑Cu二相钎料是Cu6Sn5相含量比共晶组成多的钎料,所述Ni层的与所述连接部件连接的区域被所述Cu6Sn5化合物被覆,所述Cu6Sn5化合物一方面与所述Sn类钎料相连接,另一方面通过所述Ni层与所述被连接部件连接。 |
地址 |
日本茨城 |