发明名称 半导体装置的制造方法
摘要 本发明提供一种半导体装置,其特征在于,所述半导体装置具有半导体元件、被连接部件和连接所述被连接部件的连接部件,且所述连接部件为钎料,所述被连接部件在与所述连接材料连接的表面上形成有所述Ni层,所述连接部件为Sn类钎料,含有Cu6Sn5化合物和以Cu6Sn5之外的成分为主成分的Sn类钎料相,所述Ni层的与所述连接部件连接的区域被所述Cu6Sn5化合物被覆,所述Cu6Sn5化合物一方面与所述Sn类钎料相连接,另一方面通过所述Ni层与所述被连接部件连接。
申请公布号 CN102324405B 申请公布日期 2014.10.15
申请号 CN201110265728.3 申请日期 2006.08.08
申请人 株式会社日立功率半导体 发明人 池田靖;中村真人;松吉聪;佐佐木康二;平光真二
分类号 H01L23/00(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I;B23K35/26(2006.01)I;H05K3/34(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/00(2006.01)I
代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 代理人 杨宏军
主权项 一种半导体装置,其特征在于,所述半导体装置具有半导体元件、被连接部件和连接所述被连接部件的连接部件,且所述连接部件为钎料,所述被连接部件在与所述连接部件连接的表面上形成有Ni层,所述连接部件为Sn‑Cu二相钎料,含有Cu6Sn5化合物和以Cu6Sn5之外的成分为主成分的Sn类钎料相,所述Sn‑Cu二相钎料是Cu6Sn5相含量比共晶组成多的钎料,所述Ni层的与所述连接部件连接的区域被所述Cu6Sn5化合物被覆,所述Cu6Sn5化合物一方面与所述Sn类钎料相连接,另一方面通过所述Ni层与所述被连接部件连接。
地址 日本茨城