发明名称 基于近红外成像技术的积雪参数测量系统及方法
摘要 本发明公开了一种基于近红外成像技术的积雪参数测量系统及方法,涉及积雪物理参数的地面测量领域。所述系统包括:互相连接的图像采集单元和图像处理单元;所述图像采集单元,用于采集同时包含积雪和标准反射率件的近红外图像,并将所述近红外图像发送给所述图像处理单元;所述图像处理单元用于对所述近红外图像进行处理,以得到积雪的反射率、SSA值或者粒径中的至少一种。所述积雪参数测量系统及方法,通过近红外相机采集积雪图像,并通过一系列图像处理和运算,能够快速准确的获取积雪的反射率、SSA值和粒径等参数,弥补了现有积雪物理参数地面测量技术的不足,对于积雪微波辐射和散射模型的研究提供了重要有效的数据支持。
申请公布号 CN103063611B 申请公布日期 2014.10.15
申请号 CN201110324093.X 申请日期 2011.10.21
申请人 中国科学院对地观测与数字地球科学中心 发明人 邱玉宝
分类号 G01N21/49(2006.01)I;G01B11/28(2006.01)I;G01B15/02(2006.01)I 主分类号 G01N21/49(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 王莹
主权项 一种基于近红外成像技术的积雪参数测量系统,其特征在于,包括:互相连接的图像采集单元和图像处理单元;所述图像采集单元,用于采集同时包含积雪和标准件的近红外图像,并将所述近红外图像发送给所述图像处理单元;所述图像处理单元用于对所述近红外图像进行处理,以得到积雪的反射率、SSA值或者粒径中的至少一种;其中,所述图像处理单元包括:滤波模块;所述滤波模块连接所述图像采集单元,用于采用高斯滤波算法对所述近红外图像进行滤波处理;所述图像处理单元包括:匀光模块;所述匀光模块连接所述滤波模块,用于对滤波处理后的近红外图像进行匀光处理;所述图像处理单元还包括:反射率初值模块;所述反射率初值模块连接所述匀光模块,用于采用下述反射率计算公式,计算匀光处理后的近红外图像中目标像素对应的积雪的反射率初值r:m=(s1‑s2)/(s1%标准件的平均灰度值‑s2%标准件的平均灰度值);b=s1‑(m×s1%标准件的平均灰度值);r=b+m×i;其中,s1为常数,s1%标准件表示反射率为s1%的标准件;s2为常数,s2%标准件表示反射率为s2%的标准件;i表示目标像素经匀光处理后的亮度;其中,所述图像采集单元包括:插值校正模块;所述插值校正模块连接所述反射率初值模块,用于根据所述s1%标准件的平均灰度值生成插值矩阵,并根据所述插值矩阵对所述反射率初值进行校正,得到反射率终值;所述图像采集单元包括:SSA模块;所述SSA模块连接所述插值校正模块,用于根据所述反射率终值r’,利用下述公式计算得到近红外图像中目标像素对应的积雪的SSA值s:s=A×exp(r’/T);其中,A和T均为经验参数;所述图像采集单元还包括:粒径模块;所述粒径模块连接所述插值校正模块,用于根据所述反射率终值r’,利用下述公式计算得到近红外图像中目标像素对应的积雪的粒径d:d=a×r’+b;其中,a和b均表示经验参数。
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