发明名称 | 一种表征涂层垂直表面的开裂状态的方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种表征涂层垂直表面的开裂状态的方法,包括:(1)制备掺杂有具有发光性能的元素的涂层;(2)将至少一条光纤放置在距离所述涂层预设距离的不同位置,并将光纤与光谱仪连接;(3)对涂层施加载荷,每条光纤接收涂层对应位置发出的光谱信号并传递到光谱仪;(4)对每条光纤接收到的光谱信号进行调整基线处理,并提取特征峰强度;(5)绘制归一化处理后的特征峰强度比随载荷的分布图,根据特征峰强度比的变化判断该光纤对应的涂层垂直表面的开裂状态。本发明通过光纤接收掺杂有具有发光性能的元素的涂层所发出的光谱信号,根据特征峰强度比的变化,对涂层的开裂状态进行实时、定性的监测,适合在有焰流的高温实际工况环境中使用。 | ||
申请公布号 | CN102901718B | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
申请号 | CN201210325834.0 | 申请日期 | 2012.09.05 |
申请人 | 华东理工大学 | 发明人 | 王卫泽;韦静静;洪火星;轩福贞 |
分类号 | G01N21/63(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/63(2006.01)I |
代理机构 | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人 | 邓琪;宋丽荣 |
主权项 | 一种表征涂层垂直表面的开裂状态的方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)制备掺杂有具有发光性能的元素的涂层,所述具有发光性能的元素为稀土元素,所述稀土元素在所述涂层中的摩尔百分比为0.5~1%;(2)将三条光纤放置在距离所述涂层预设距离的不同位置,并将光纤与光谱仪连接;(3)对涂层施加载荷,每条光纤接收涂层对应位置发出的光谱信号并传递到光谱仪;(4)对每条光纤接收到的光谱信号进行调整基线处理,并提取特征峰强度;(5)绘制归一化处理后的特征峰强度比随载荷的分布图,根据特征峰强度比的变化判断该光纤对应的涂层垂直表面的开裂状态,其中特征峰强度比的降低对应涂层中垂直表面的裂纹数量的增加或裂纹宽度的增大。 | ||
地址 | 200237 上海市徐汇区梅陇路130号 |