发明名称 |
光拾取装置用物镜的制造方法、物镜及物镜的检查方法 |
摘要 |
本发明提供一种能够以低成本制造可精度良好地组装于光拾取装置的物镜的制造方法、物镜及物镜的检查方法。使检测光(DL)从检测装置(SS)朝向物镜(OL)的第二平坦面(L2)射出。由于所述检测光(DL)从第二平坦面(L2)反射而再次回到检测装置(SS),所以其被CCD的摄像面等接收。此时,如果反射光返回摄像面的规定位置,则可知第二平坦面(L2)与光拾取装置的光轴平行。由于在第二平坦面(L2)不形成防反射层,所以来自第二平坦面(L2)的反射光的强度增大,能够进行精度良好的检测。 |
申请公布号 |
CN104106114A |
申请公布日期 |
2014.10.15 |
申请号 |
CN201380007448.X |
申请日期 |
2013.01.26 |
申请人 |
柯尼卡美能达株式会社 |
发明人 |
伊藤辉彦 |
分类号 |
G11B7/1374(2012.01)I;G11B7/22(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/1374(2012.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
岳雪兰 |
主权项 |
一种物镜的制造方法,其特征在于,是具有第一光学面、曲率比所述第一光学面小的第二光学面和设置在所述第一光学面及所述第二光学面周围的凸缘部的光拾取装置用物镜的制造方法,所述物镜在所述第二光学面与所述凸缘部之间设有第二平坦面,所述第二平坦面是镜面,在将所述物镜组装于光拾取装置时,向所述第二平坦面照射检测光,通过接收其反射光来检测所述物镜的姿态,所述物镜的制造方法具有:在所述物镜成形后,利用遮蔽部件覆盖所述第二平坦面的工序,所述遮蔽部件具有从所述凸缘部侧向所述第二平坦面侧延伸且露出所述第二光学面的第二开口;至少在所述第一光学面和所述第二光学面实施防反射层的工序。 |
地址 |
日本东京都 |