| 发明名称 | 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置 | ||
| 摘要 | 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置，该装置包括进样口，电离室，离子源和原位热解装置，质量分析器，接收器，数据系统，供电系统及真空系统；进样口直接引入离子源和原位热解装置中，离子源和原位热解装置在电离室中，电离室紧靠质量分析器；接收器在质量分析器中，通过数据线与数据系统相连，在电离室和质量分析器中加入真空系统。该装置可以探测样品升温脱附过程中产生的自由基与反应中间体，质谱分辨率可达到5000，具有分辨率高、检测速度快、小型便携的优点。适用于过程气体的分析检测。 | ||
| 申请公布号 | CN104103489A | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
| 申请号 | CN201310123964.0 | 申请日期 | 2013.04.10 |
| 申请人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明人 | 唐紫超;史磊;吴小虎;王兴龙;任文峰;李刚;张世宇 |
| 分类号 | H01J49/40(2006.01)I;G01N27/64(2006.01)I | 主分类号 | H01J49/40(2006.01)I |
| 代理机构 | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人 | 张晨 |
| 主权项 | 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置，其特征在于：该装置包括进样口，电离室，离子源和原位热解装置，质量分析器，接收器，数据系统，供电系统及真空系统；进样口直接引入离子源和原位热解装置中，离子源和原位热解装置在电离室中，电离室紧靠质量分析器；接收器在质量分析器中，通过数据线与数据系统相连，在电离室和质量分析器中加入真空系统。 | ||
| 地址 | 116023 辽宁省大连市中山路457号 | ||