发明名称 System eines fokussierten lonenstrahls
摘要 Ein System eines fokussierten Ionenstrahls umfasst eine Gasfeld-Ionenquelle, welche Gasionen erzeugt, eine Ionen-Beschuss-Einheit, welche die Gasionen beschleunigt und die Gasionen als einen Ionenstrahl abstrahlt, ein Strahl-Optiksystem, welches wenigstens eine fokussierende Linsenelektrode umfasst und den Ionenstrahl auf eine Probe abstrahlt, und einen Bilderfassungs-Mechanismus, welcher ein FIM-Bild von einer Spitze eines Emitters basierend auf dem Ionenstrahl erlangt. Der Bilderfassungs-Mechanismus umfasst eine Ausricht-Elektrode, welche zwischen der Ionen-Beschuss-Einheit und der fokussierenden Linsenelektrode angeordnet ist und eine Bestrahlungsrichtung des Ionenstrahls einstellt, eine Ausricht-Steuereinheit, welche eine Ausricht-Spannung an die Ausricht-Elektrode anlegt, und eine Bildverarbeitungs-Einheit, welche eine Mehrzahl von FIM-Bildern, welche erlangt werden, indem unterschiedliche Ausricht-Spannungen angelegt werden, zusammenfasst, um ein zusammengefasstes FIM-Bild zu erzeugen.
申请公布号 DE102014103896(A1) 申请公布日期 2014.10.09
申请号 DE201410103896 申请日期 2014.03.21
申请人 HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION 发明人 SUGIYAMA, YASUHIKO,;KOZAKAI, TOMOKAZU,;MATSUDA, OSAMU,
分类号 H01J37/302 主分类号 H01J37/302
代理机构 代理人
主权项
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