发明名称 基于图像灰度分析的微尺度薄膜振动频率的测量方法
摘要 一种基于图像灰度分析的微尺度薄膜振动频率的测量方法,属于实验装置及方法技术领域。将微米级荧光示踪粒子添加到制备微尺度薄膜的试剂中,制备得到含有示踪粒子的薄膜。通过荧光显微镜和高速摄像技术记录薄膜内荧光粒子在显微镜下进入和离开焦平面的变化过程,利用matlab分析不同时间下的图像灰度,记录其变化规律并分析得到薄膜振动频率。本发明可以适用于不能安装传感器的微尺度薄膜上,所涉及的测量方法和处理方法成熟,可靠性可以得到保证,并且操作过程简单。
申请公布号 CN104089696A 申请公布日期 2014.10.08
申请号 CN201410307243.X 申请日期 2014.06.30
申请人 北京工业大学 发明人 刘赵淼;逄燕;曹刃拓
分类号 G01H9/00(2006.01)I 主分类号 G01H9/00(2006.01)I
代理机构 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人 纪佳
主权项 基于图像灰度分析技术测量微尺度薄膜振动频率的方法;通过荧光显微镜和高速摄像技术记录薄膜内荧光粒子的变化过程,利用matlab分析不同时间下的图像灰度,记录其变化规律并分析得到薄膜振动频率;其特征在于:高速摄像机记录3~5分钟内荧光粒子进入和离开显微镜焦平面的过程,即荧光粒子的明暗变化,利用matlab程序分析该过程中粒子在每帧图像的灰度,得到该粒子图像灰度随时间,即图像的帧次与相邻两帧间隔时间的乘积的变化状况,该变化为周期性变化,主周期的倒数即为荧光粒子的振动频,也就是薄膜的振动频率。
地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号