发明名称 原子荧光光谱法测定工业粗铅中痕量元素砷、锑的方法
摘要 本发明公开了一种原子荧光光谱法测定工业粗铅中痕量元素砷、锑的方法,包括以下步骤:A、配制工业粗铅细屑样品的溶液;B、配制标准砷溶液和标准锑溶液;C、用标准砷溶液和标准锑溶液配制工作曲线溶液;D、用原子荧光光度计测定工作曲线溶液中砷、锑的原子荧光强度,以砷、锑的质量浓度为横坐标,以砷、锑的荧光强度为纵坐标,绘制工作曲线;E、用原子荧光光度计测定样品溶液的原子荧光强度,用样品溶液中砷、锑的原子荧光强度在相应的工作曲线上查出相应元素砷、锑的质量浓度。本发明使用硝酸、盐酸和硫脲--抗坏血酸处理样品不仅能够有效掩蔽干扰离子Cu、Fe、Ag、Bi、Se及其组合的影响,而且还能消除铅基体本身对砷、锑测量的影响。
申请公布号 CN104076017A 申请公布日期 2014.10.01
申请号 CN201410340800.8 申请日期 2014.07.17
申请人 白银有色集团股份有限公司 发明人 马得莉;王学虎;王冬珍;陈化玲;吕彦玲;陈瑾霞
分类号 G01N21/64(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 甘肃省知识产权事务中心 62100 代理人 张克勤
主权项 一种原子荧光光谱法测定工业粗铅中痕量元素砷、锑的方法,其特征在于:包括以下步骤:A、配制工业粗铅细屑样品的溶液;B、配制标准砷溶液和标准锑溶液;C、用标准砷溶液和标准锑溶液配制工作曲线溶液;D、用原子荧光光度计测定工作曲线溶液中砷、锑的原子荧光强度,以砷、锑的质量浓度为横坐标,以砷、锑的荧光强度为纵坐标,绘制工作曲线;E、用原子荧光光度计测定样品溶液的原子荧光强度,用样品溶液中砷、锑的原子荧光强度在相应的工作曲线上查出相应元素砷、锑的质量浓度;F、根据下式计算试样中元素砷、锑的质量百分数w,数值以%表示:<img file="2014103408008100001dest_path_image001.GIF" wi="368" he="73" />式中:ρ—测定试样溶液中元素砷、锑的质量浓度,单位为每毫升微克;ν—测定试样溶液体积,单位毫升;m—试样质量,单位克。
地址 730900 甘肃省白银市白银区友好路96号