发明名称 天线指标计算方法及装置
摘要 本发明公开了一种天线指标计算方法及装置。其中天线指标计算方法包括:对待测系统进行测试,获得待测系统的权值测试数据;设置待生成波束幅度方向图中离散点的数量,并设置离散点均匀分布,计算各个离散点的方位角和导向矢量;根据权值测试数据计算各个离散点对应的不同极化方向的功率值,将方位角相同的离散点的功率值进行叠加;根据设置的离散点及叠加后的离散点的功率值生成波束幅度方向图,根据波束幅度方向图计算天线波束的主瓣宽度指标值和旁瓣增益指标值。本发明的天线指标计算方法及装置,无需使用天线转台工具,节省了测试成本;同时可根据需要调整采样点的间距,极大节省了工作量,提升了指标精度。
申请公布号 CN102546049B 申请公布日期 2014.10.01
申请号 CN201010624525.4 申请日期 2010.12.30
申请人 中国移动通信集团湖北有限公司 发明人 张巧琳;吴勤华;周巍;湛颖;王可恩;王胜
分类号 H04B17/00(2006.01)I 主分类号 H04B17/00(2006.01)I
代理机构 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人 彭晓玲;丛芳
主权项 一种天线指标计算方法,其特征在于,包括:A、对待测系统进行测试,获得待测系统的权值测试数据;B、设置待生成波束幅度方向图中离散点的数量,并设置所述离散点均匀分布,计算各个离散点的方位角和导向矢量;C、根据权值测试数据计算各个离散点对应的不同极化方向的功率值,将方位角相同的离散点的功率值进行叠加;D、根据设置的离散点及叠加后的离散点的功率值生成波束幅度方向图,根据所述波束幅度方向图计算天线波束的主瓣宽度指标值和旁瓣增益指标值;其中,所述步骤B中,第i个离散点的方位角为:<img file="FDA0000522890120000011.GIF" wi="368" he="126" />其中,L为设置的离散点的数量;第i‑k个离散点的导向矢量为:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>a</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mi>k</mi></mrow></msub><mo>=</mo><mi>exp</mi><mo>[</mo><mi>j</mi><mn>2</mn><mi>&pi;</mi><mrow><mo>(</mo><mi>k</mi><mo>-</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow><mi>d</mi><mi>sin</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><mi>&pi;</mi><mrow><mo>(</mo><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow><mi>L</mi></mfrac><mo>-</mo><mfrac><mi>&pi;</mi><mn>2</mn></mfrac><mo>)</mo></mrow><mo>]</mo><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000522890120000012.GIF" wi="897" he="155" /></maths>其中,d是导向矢量a<sub>i</sub>对应的极化方向上任意两个相邻阵元中心之间的距离;j是复数a<sub>i‑k</sub>的虚部符号。
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