半导体自动测试设备之时间量测模组及方法

摘要

本发明系关于一种半导体自动测试设备之时间量测模组，时间量测模组包含复数时间量测单元，时间量测模组的量测方法系该些时间量测单元接收一参考时脉与一重置讯号，而该些时间量测单元分别包含：一同步电路用以依据参考时脉与重置讯号产生一工作时脉与一致能讯号；一参考计数器电性连接于同步电路，参考计数器用以依据致能讯号开始计数，并依据工作时脉产生一参考计数讯号；以及一量测电路电性连接于同步电路与参考计数器，量测电路用以接收一外部待测讯号，并依据参考计数讯号处理外部待测讯号之时序。