发明名称 |
反应腔室以及等离子体加工设备 |
摘要 |
本发明提供一种反应腔室以及等离子体加工设备,其包括沿其轴向间隔设置的多层托盘以及检测单元,在每层托盘的上表面形成有未被所有的位于其上方的托盘覆盖的检测位置,多层托盘的检测位置与反应腔室的中心线之间的水平间距由下而上逐渐减小,置于每层托盘上的被加工工件的下表面的部分区域与其所在托盘的检测位置重叠;检测单元用于检测部分区域叠置在检测位置上的被加工工件的温度和/或薄膜厚度。本发明提供的反应腔室,其可以同时对不同托盘上的被加工工件的温度和/或薄膜沉积厚度进行实时检测,从而可以根据检测结果及时地对设备进行相应的调试,以改善被加工工件的温度均匀性和/或薄膜沉积厚度的均匀性。 |
申请公布号 |
CN104073783A |
申请公布日期 |
2014.10.01 |
申请号 |
CN201310097011.1 |
申请日期 |
2013.03.25 |
申请人 |
北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
发明人 |
周卫国 |
分类号 |
C23C16/52(2006.01)I |
主分类号 |
C23C16/52(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
彭瑞欣;张天舒 |
主权项 |
一种反应腔室,在所述反应腔室内设置有沿竖直方向间隔设置的多层托盘,每层所述托盘承载有多个被加工工件,其特征在于,在每层所述托盘的上表面上形成有未被所有的位于其上方的所述托盘覆盖的检测位置,所述多层托盘的检测位置与所述反应腔室在竖直方向上的中心线之间的水平间距由下而上逐渐减小;在所述多层托盘中的最上层托盘的上方,且与每层所述托盘的检测位置相对应的位置处设置有检测单元,用以检测设置在每层托盘上,且部分区域叠置在所述检测位置上的被加工工件的温度和/或薄膜厚度。 |
地址 |
100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号 |