发明名称 | 异物检测装置 | ||
摘要 | 本发明提供异物检测装置,其能够检测在连续流动的试样中包含的特定金属异物。该异物检测装置具有:X射线源(2),其对在一定方向上移动的试样(S)照射原级X射线(X1);平行多毛细管(3),其是至少在试样的移动方向上排列多个毛细管(3a)而构成的,取出从被照射原级X射线的试样产生的次级X射线的一部分平行成分,射出平行的次级X射线(X2);分光元件(4),其从平行的次级X射线分光出特定的荧光X射线(X3);TDI传感器(5),其接收荧光X射线;以及控制部(C),其对TDI传感器进行控制,检测与荧光X射线对应的异物(S1),控制部使TDI传感器的电荷转移的方向和速度与试样的移动方向和速度一致,对TDI传感器接收到的荧光X射线的亮度值进行累计。 | ||
申请公布号 | CN104076053A | 申请公布日期 | 2014.10.01 |
申请号 | CN201410113698.8 | 申请日期 | 2014.03.25 |
申请人 | 日本株式会社日立高新技术科学 | 发明人 | 的场吉毅 |
分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 李辉;黄纶伟 |
主权项 | 一种异物检测装置,其特征在于,该异物检测装置具有:X射线源,其对在一定方向上移动的试样照射原级X射线;平行二维隙缝,其是至少在所述试样的移动方向上排列多个隙缝而构成的,取出从被照射所述原级X射线的所述试样产生的次级X射线的一部分平行成分,射出平行的次级X射线;分光元件,其从所述平行的次级X射线分光出特定的荧光X射线;TDI传感器,其接收所述荧光X射线;以及控制部,其对所述TDI传感器进行控制,检测与所述荧光X射线对应的异物,所述控制部使所述TDI传感器的电荷转移的方向和速度与所述试样的移动方向和速度一致,对所述TDI传感器接收到的所述荧光X射线的亮度值进行累计。 | ||
地址 | 日本东京都 |