发明名称 | 鳍式场效应晶体管的形成方法 | ||
摘要 | 一种鳍式场效应晶体管的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有凸起的鳍部,位于所述鳍部上的栅极结构,所述栅极结构覆盖部分所述鳍部的顶部和侧壁;刻蚀所述栅极结构两侧的部分鳍部,形成开口;在所述开口的底部和侧壁表面形成阻挡氧化层;在所述开口内形成嵌入式源区和漏区。本发明的鳍式场效应晶体管的形成方法防止了嵌入式源区和漏区的掺杂杂质扩散进入负遮盖区,有利于提高晶体管性能。 | ||
申请公布号 | CN104064467A | 申请公布日期 | 2014.09.24 |
申请号 | CN201310093720.2 | 申请日期 | 2013.03.21 |
申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 三重野文健 |
分类号 | H01L21/336(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 骆苏华 |
主权项 | 一种鳍式场效应晶体管的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有凸起的鳍部,位于所述鳍部上的栅极结构,所述栅极结构覆盖部分所述鳍部的顶部和侧壁;刻蚀所述栅极结构两侧的部分鳍部,形成开口;在所述开口的底部和侧壁表面形成阻挡氧化层;在所述开口内形成嵌入式源区和漏区。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区张江路18号 |