发明名称 取样相位校正方法,使用此取样相位校正方法的储存系统
摘要 一种取样相位校正方法,包含:使一储存装置控制器传送一第二命令讯号,来读取一储存装置内的一内容;根据该内容,使该储存装置控制器传送一第一命令讯号及具有一第三取样相位之一第三资料讯号给该储存装置;以及根据该储存装置相对应该第一命令讯号及该第三资料讯号所回应给该储存装置控制器的一回应资讯,来判断该储存装置控制器对该储存装置的资料传输是否有错误,以判断该第三取样相位是否恰当;其中,该第二命令讯号使用一第二时脉来传送,该第一命令讯号系使用一第一时脉来传送,该第二时脉慢于该第一时脉。
申请公布号 TWI453588 申请公布日期 2014.09.21
申请号 TW100140409 申请日期 2011.11.04
申请人 瑞昱半导体股份有限公司 新竹市新竹科学园区创新二路2号 发明人 林能贤;蒋国兵
分类号 G06F13/10;G06F1/08 主分类号 G06F13/10
代理机构 代理人 吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3;戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项 一种取样相位校正方法,包含:使一储存装置控制器传送一第二命令讯号,来读取一储存装置内的一内容;根据该内容,使该储存装置控制器传送一第一命令讯号及具有一第三取样相位之一第三资料讯号给该储存装置;以及根据该储存装置相对应该第一命令讯号及该第三资料讯号所回应给该储存装置控制器的一回应资讯,来判断该储存装置控制器对该储存装置的资料传输是否有错误,以判断该第三取样相位是否恰当;其中,该第二命令讯号使用一第二时脉来传送,该第一命令讯号系使用一第一时脉来传送,该第二时脉慢于该第一时脉。
地址 新竹市新竹科学园区创新二路2号