发明名称 |
半导体封装件及其制法 |
摘要 |
一种半导体封装件及其制法,该半导体封装件包括:承载件;设置并电性连接于该承载件上之半导体晶片及第一金属块;包覆该第一金属块及半导体晶片之封装胶体,并外露出该第一金属块顶面;形成于该封装胶体表面之金属膜;位于该封装胶体外之天线,且与该第一金属块之间具有间隔;以及电性连接该第一金属块与天线之导电元件,藉此,使天线不局限在封装胶体中,可灵活设计其尺寸,而用以屏蔽电磁波干扰的金属膜系透过镀覆技术形成者,可大幅降低成本。 |
申请公布号 |
TWI453836 |
申请公布日期 |
2014.09.21 |
申请号 |
TW100132544 |
申请日期 |
2011.09.09 |
申请人 |
矽品精密工业股份有限公司 台中市潭子区大丰路3段123号 |
发明人 |
邱志贤;蔡宗贤;朱恒正 |
分类号 |
H01L21/50;H01L21/56;H01L21/58 |
主分类号 |
H01L21/50 |
代理机构 |
|
代理人 |
陈昭诚 台北市中正区杭州南路1段15之1号9楼 |
主权项 |
一种半导体封装件,包括:承载件;第一金属块,系设置并电性连接于该承载件上;半导体晶片,系设置并电性连接于该承载件上;封装胶体,系形成于该承载件上,以包覆该第一金属块及半导体晶片,并外露出该第一金属块顶面;金属膜,系形成于该封装胶体表面;天线,系位于该封装胶体外并与该封装胶体之间具有间隔,且与该第一金属块之间具有间隔;以及导电元件,系电性连接该第一金属块与天线。 |
地址 |
台中市潭子区大丰路3段123号 |