发明名称 晶圆,面板,半导体装置及玻璃基板之处理方法;WAFERS, PANELS, SEMICONDUCTOR DEVICES, AND GLASS SUBSTRATE TREATMENT METHODS
摘要 玻璃基板处理方法,晶圆,面板及半导体装置在此揭露。在某些实施例中,处理一玻璃基板的方法包括形成一第一薄膜于玻璃基板上,第一薄膜具有一第一孔隙度。所述方法包括形成一第二薄膜于第一薄膜上,第二薄膜包括一电性绝缘材料,及具有一第二孔隙度。第一孔隙度小于第二孔隙度。
申请公布号 TW201436036 申请公布日期 2014.09.16
申请号 TW102127334 申请日期 2013.07.30
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 廖文翔
分类号 H01L21/31(2006.01) 主分类号 H01L21/31(2006.01)
代理机构 代理人 <name>蔡坤财</name><name>李世章</name>
主权项
地址 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号