发明名称 半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME
摘要 本发明提供一半导体装置包含一闸极结构配置于一基板之上。该装置更包含一隔离结构于该基板之中,并与该闸极结构的一边缘相邻。该装置亦包含一间隙壁位于该闸极结构的一侧壁上。其中,该间隙壁具有一上表面系低于该基板的一上表面。
申请公布号 TW201436235 申请公布日期 2014.09.16
申请号 TW103101574 申请日期 2014.01.16
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 陈昇庆;陈光鑫;田博仁;张宗生
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 <name>洪澄文</name><name>颜锦顺</name>
主权项
地址 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号