发明名称 |
堆叠式电容式结构及其制造方法;STACK CAPCAITOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF |
摘要 |
本发明实施例提供一种适用于随机存记忆体取之堆叠式电容器结构及其制造方法。所述堆叠式电容器结构是形成于半导体基底之上。所述堆叠式电容器结构包括氧化层及环状阻挡层。所述氧化层是位于半导体基底之上。所述氧化层具有一电容沟渠。所述环状阻挡层是形成于电容沟渠的开口边缘。本发明之堆叠式电容器结构及其制造方法可避免堆叠式电容器结构发生因制程限制而具不同开口大小与因较宽腰身造成相邻之电容沟渠漏电导致短路的现象。 |
申请公布号 |
TW201436245 |
申请公布日期 |
2014.09.16 |
申请号 |
TW102108514 |
申请日期 |
2013.03.11 |
申请人 |
华亚科技股份有限公司 |
发明人 |
姜序;胡耀文;李宗翰;李中元;吴圣雄 |
分类号 |
H01L29/92(2006.01);H01L21/8239(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/92(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>庄志强</name> |
主权项 |
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地址 |
INOTERA MEMORIES, INC. 桃园县龟山乡复兴三路667号 |