发明名称 | 快闪记忆体的验证装置;VERIFYING APPARATUS OF FLASH MEMORY | ||
摘要 | 一种快闪记忆体的验证装置,包括测试控制器以及放电电路。测试控制器提供电源电压,并且用以验证快闪记忆体的抹除操作。放电电路耦接测试控制器与快闪记忆体。放电电路受控于测试控制器而决定是否致能,并且于致能时提供放电路径。其中,测试控制器发出抹除指令以使快闪记忆体进行抹除操作,并且在快闪记忆体进行抹除操作的抹除期间内停止提供电源电压并且致能放电电路,使得快闪记忆体经由放电路径进行放电,藉以检查快闪记忆体是否发生过度抹除。 | ||
申请公布号 | TW201435890 | 申请公布日期 | 2014.09.16 |
申请号 | TW102107547 | 申请日期 | 2013.03.04 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 陈敏修 |
分类号 | G11C29/38(2006.01);G11C29/52(2006.01) | 主分类号 | G11C29/38(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | <name>詹铭文</name><name>叶璟宗</name> | |
主权项 | |||
地址 | WINBOND ELECTRONICS CORP. 台中市大雅区科雅一路8号 |