发明名称 | 半导体装置和信息读取方法 | ||
摘要 | 本发明提供了半导体装置和信息读取方法。所述半导体装置包括:记忆元件,其被构造成能够采取彼此可区别开的多个电阻状态;偏置施加部,其被构造用来在偏置施加周期内向所述记忆元件施加偏置信号;以及判定部,其被构造用来基于检出信号而判定所述记忆元件的电阻状态,其中所述检出信号是在被施加了所述偏置信号的所述记忆元件中生成的。当由所述判定部判定的所述电阻状态是所述多个电阻状态之中预定的一个电阻状态时,所述偏置施加部根据所述记忆元件的电阻值来设定所述偏置施加周期的长度。本发明的半导体装置和信息读取方法能使读取干扰难以发生。 | ||
申请公布号 | CN104036824A | 申请公布日期 | 2014.09.10 |
申请号 | CN201410035029.3 | 申请日期 | 2014.01.24 |
申请人 | 索尼公司 | 发明人 | 椎本恒则 |
分类号 | G11C16/26(2006.01)I | 主分类号 | G11C16/26(2006.01)I |
代理机构 | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人 | 陈桂香;褚海英 |
主权项 | 一种半导体装置,其包括:记忆元件,它被构造成能够采取彼此可区别开的多个电阻状态;偏置施加部,它被构造用来在偏置施加周期内向所述记忆元件施加偏置信号;以及判定部,它被构造用来基于检出信号而判定所述记忆元件的电阻状态,所述检出信号是在被施加了所述偏置信号的所述记忆元件中生成的,其中,当由所述判定部判定的所述电阻状态是所述多个电阻状态之中预定的一个电阻状态时,所述偏置施加部根据所述记忆元件的电阻值来设定所述偏置施加周期的长度。 | ||
地址 | 日本东京 |