发明名称 一种精密伺服机构谐振频率的测试系统及测试方法
摘要 本发明公开了一种精密伺服机构谐振频率的测试系统及测试方法,系统包括被测精密伺服机构、伺服机构参数测试仪和数据处理显示终端工控机。被测精密伺服机构由闭环回路控制方式达到一个机械系统位置、速度或加速度控制的系统。测试方法包括扫频法、阶跃法,白噪声法或Multitone法,激励信号为多种可选,有利于减小不同机构的不同特性所造成的误差,本发明利用微型计算机强大的软件功能和图形环境进行伺服系统谐振频率测试仪的研究与开发,具有操作方便、操作程序化、性价比高等优点,可以更好地满足科研和工程设计的需要。
申请公布号 CN104034962A 申请公布日期 2014.09.10
申请号 CN201410186545.6 申请日期 2014.05.05
申请人 西安电子科技大学 发明人 王卫东;王和宁;马伯渊;李伟;李建文
分类号 G01R23/02(2006.01)I 主分类号 G01R23/02(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 徐文权
主权项 一种精密伺服机构谐振频率的测试系统,包括一个被测精密伺服机构(101),一个用于测量被测精密伺服机构(101)的伺服机构参数测试仪(109),以及一个用于控制伺服机构参数测试仪(109)的数据处理显示终端工控机(114);其特征在于,所述被测精密伺服机构(101)包括通过框架固定轴(103)支撑的底座(108),所述底座(108)上设置有伺服电机(105),伺服电机(105)通过传动减速齿轮组(104)啮合连接位置传感器(107),位置传感器(107)连接负载盘(102);所述伺服电机(105)通过数据传输电缆(106)与伺服机构参数测试仪(109)相连;所述伺服机构参数测试仪(109)包括通过数据传输电缆(106)与被测精密伺服机构(101)相连的电机驱动器(111),所述电机驱动器(111)分别连接数据转换处理卡(110)和多轴运动控制卡(112),多轴运动控制卡(112)通过数据传输电缆(113)连接工控机(114);所述工控机(114)包括通过数据传输电缆(113)连接的工控机主机(116),工控机主机(116)连接有工控机显示器(115);伺服电机(105)经传动减速齿轮组(104)带动置于负载盘(102)上的负载运动,负载与位置传感器(107)同轴同步运动,其负载的位置信息由位置传感器(107)传送给伺服机构参数测试仪(109)做数据转换,并经由工控机(114)控制计算得到测试精密伺服机构的谐振频率。
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