发明名称 | 记录和处理混合成像装置的测量数据的方法以及该装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种用于记录和处理混合成像装置的测量数据的方法,该混合装置包括用于第一成像模态的第一子装置和用于发射断层造影的第二子装置,所述方法包括以下步骤:进行第一子装置的测量数据记录,其中在测量数据记录时连续移动到不同的检查台位置;在不同的检查台位置上在利用第一子装置进行测量数据记录的期间利用第二子装置记录发射断层造影测量数据;将记录的发射断层造影测量数据与不同的检查台位置对应;如下地改变对应于不同的检查台位置所记录的发射断层造影数据的数据量,使得相应于改变的数据量的记录持续时间,在不同的检查台位置的情况下被互相均衡;从改变的发射断层造影测量数据中重建发射断层造影影像。此外本发明还涉及一种混合成像装置,其被构造为用于进行这样的方法。 | ||
申请公布号 | CN101933836B | 申请公布日期 | 2014.09.10 |
申请号 | CN201010220065.9 | 申请日期 | 2010.06.25 |
申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 阿克塞尔·马丁内斯-莫勒;斯蒂芬·尼科拉 |
分类号 | G01T1/161(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/161(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 谢强 |
主权项 | 一种用于记录和处理混合成像装置(1)的测量数据(41,43,45;51,53,55)的方法,该混合成像装置包括用于第一成像模态的第一子装置(2)和用于发射断层造影的第二子装置(3,4,5,6),所述方法包括以下步骤:‑进行第一子装置(2)的测量数据记录(MR),其中,在测量数据记录时连续移动到不同的检查台位置(31,33,35),并且其中,所述不同的检查台位置和保持所述不同的检查台位置的持续时间与第一成像模态一致,‑在不同的检查台位置(31,33,35)上在利用第一子装置(2)进行测量数据记录(MR)的期间利用第二子装置(3,4,5,6)记录发射断层造影测量数据(51,53,55),‑将记录的发射断层造影测量数据(51,53,55)与不同的检查台位置(31,33,35)相对应,‑如下地改变对应于不同的检查台位置(31,33,35)所记录的发射断层造影数据(51,51′;53,53′;55)的数据量,使得相应于改变的数据量(51,51′;53,53′;55)的记录持续时间(61),在不同的检查台位置(31,33,35)的情况下被互相均衡,‑从改变的发射断层造影测量数据(51,51′;53,53′;55)中重建发射断层造影影像。 | ||
地址 | 德国慕尼黑 |