发明名称 时序分析装置及时序分析方法
摘要 一种时序分析装置,应用于一可程式逻辑阵列系统中,包含:复数第一及第二基本输入输出端、通道多工器、复数高速输入输出端、取样模组以及时序分析模组。第一基本输入输出端自待测元件接收复数待测讯号。通道多工器自第一基本输入输出端接收待测讯号,以选择待测讯号中之至少一组输出至第二基本输入输出端。高速输入输出端具有较第一及第二基本输入输出端高之逻辑电平解析速度。取样模组透过高速输入输出端接收自第二基本输入输出端输出之该组待测讯号进行取样,以产生取样结果。时序分析模组根据取样结果进行时序分析及量测。
申请公布号 TWI451108 申请公布日期 2014.09.01
申请号 TW102101773 申请日期 2013.01.17
申请人 德律科技股份有限公司 台北市士林区徳行西路45号7楼 发明人 沈游城;许益豪
分类号 G01R31/317;G01R31/3185 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项 一种时序分析装置,应用于一可程式逻辑阵列(programmable logic array)系统中,包含:复数第一基本输入输出(I/O)端,用以自一待测元件接收复数待测讯号;复数第二基本输入输出端;一通道多工器,用以自该等第一基本输入输出端接收该等待测讯号,以选择该等待测讯号中之至少一组输出至该等第二基本输入输出端;复数高速输入输出端,具有较该等第一及第二基本输入输出端高之逻辑电平解析速度,用以连接该等第二基本输入输出端;一取样模组,用以透过该等高速输入输出端接收自该等第二基本输入输出端输出之该组待测讯号进行取样,以产生一取样结果;以及一时序分析模组,用以根据该取样结果进行一时序分析及量测。
地址 台北市士林区徳行西路45号7楼