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经营范围
发明名称
晶片卷带检测机构
摘要
一种晶片卷带检测机构,包含一座体、一输送装置、一卷带送料单元及一卷带收料单元,该卷带送料单元包含一送料盘及一送料侦测器,该送料侦测器用以侦测该晶片卷带自该送料盘垂降的高度,该卷带收料单元包含一收料盘及一收料侦测器,该收料侦测器用以侦测该晶片卷带自该输送装置垂降的高度。利用该送料侦测器及收料侦测器分别侦测该晶片卷带于送料及收料的长度,可避免该晶片卷带于送料及收料的长度过长或过短而产生该晶片卷带推挤或卡料的问题。
申请公布号
TWM485407
申请公布日期
2014.09.01
申请号
TW103209644
申请日期
2014.05.30
申请人
韩宏德 高雄市燕巢区安林六街5号
发明人
韩宏德
分类号
G01R31/01;H01L21/67
主分类号
G01R31/01
代理机构
代理人
康清敬 台北市大安区敦化南路2段77号19楼
主权项
一种晶片卷带检测机构,用以检测一晶片卷带,该检测机构包含:一座体;一输送装置,设置在该座体上,用以输送该晶片卷带;一卷带送料单元,设置在该输送装置的一侧,该卷带送料单元包含一送料盘,用以供该晶片卷带卷绕;及一送料侦测器,设置在该输送装置下方且用以侦测该晶片卷带自该送料盘垂降的高度;及一卷带收料单元,设置在该输送装置的另一侧,该卷带收料单元包含一收料盘,用以供该晶片卷带卷绕;及一收料侦测器,设置在该输送装置下方且用以侦测该晶片卷带自该输送装置垂降的高度。
地址
高雄市燕巢区安林六街5号
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