发明名称 |
静态随机存取记忆体单元结构以及静态随机存取记忆体单元布局结构;STATIC RANDOM ACCESS MEMORY UNIT CELL STRUCTURE AND STATIC RANDOM ACCESS MEMORY UNIT CELL LAYOUT STRUCTURE |
摘要 |
本发明揭示一种静态随机存取记忆体单元布局结构,其中长形接触窗跨置于二个主动区。另揭示一种静态随机存取记忆体单元结构及其制法,其中使长形接触窗跨置于下拉电晶体与上拉电晶体的汲极上,第零层金属连线跨置于长形接触窗上与另一上拉电晶体的闸极线上。如此,已无纵向与横向的第零层金属连线相交处,不会有基底同一处遭受二次蚀刻制程的腐蚀情形,可避免侵蚀的钉入区太深而引起接面漏电流的情形。 |
申请公布号 |
TW201434112 |
申请公布日期 |
2014.09.01 |
申请号 |
TW102106422 |
申请日期 |
2013.02.23 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
洪庆文;曹博昭;王淑如;黄家纬;陈界得;张峰溢;黄志森 |
分类号 |
H01L21/8244(2006.01);H01L27/11(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/8244(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>吴丰任</name><name>戴俊彦</name> |
主权项 |
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地址 |
UNITED MICROELECTRONICS CORP. 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |