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发明名称 SEPARATE TEST ELECTRONICS AND BLOWER MODULES IN AN APPARATUS FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT
摘要 <p>The invention relates to an apparatus for testing an integrated circuit of an electronic device.</p>
申请公布号 SG10201401753T(A) 申请公布日期 2014.08.28
申请号 SGT10201401753 申请日期 2010.05.05
申请人 AEHR TEST SYSTEMS 发明人 HENDRICKSON, DAVID S.;JOVANOVIC, JOVAN;RICHMOND, II, DONALD P.;BARRACLOUGH, WILLIAM D.
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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