发明名称 |
光学元件、分析装置、分析方法及电子设备 |
摘要 |
本发明涉及光学元件、分析装置、分析方法及电子设备。提供基于由光照射激励的表面等离子体的光的增强度大的光学元件。本发明的光学元件(100)包括以第一方向为厚度方向的金属层(10),沿第一方向与金属层(10)分离设置的金属粒子(30),以及使金属层(10)和金属粒子(30)分离的透光层(20),金属粒子(30)的第一方向的大小T满足3nm≤T≤14nm的关系,金属粒子(30)的与第一方向正交的第二方向的大小D满足30nm≤D<50nm的关系。 |
申请公布号 |
CN104007494A |
申请公布日期 |
2014.08.27 |
申请号 |
CN201410067294.X |
申请日期 |
2014.02.26 |
申请人 |
精工爱普生株式会社 |
发明人 |
杉本守 |
分类号 |
G02B5/00(2006.01)I;G01N21/65(2006.01)I;G01N21/55(2014.01)I |
主分类号 |
G02B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
余刚;吴孟秋 |
主权项 |
一种光学元件,其特征在于,包括:金属层,以第一方向为厚度方向;金属粒子,沿所述第一方向与所述金属层分离设置;以及透光层,使所述金属层和所述金属粒子分离,所述金属粒子的所述第一方向的大小T满足3nm≤T≤14nm的关系,所述金属粒子的与所述第一方向正交的第二方向的大小D满足30nm≤D<50nm的关系。 |
地址 |
日本东京 |