发明名称 |
一种Seebeck系数测试装置 |
摘要 |
本发明涉及一种Seebeck系数测试装置,它包括陶瓷底座,陶瓷底座采用由一体成型的长边端和短边端构成的L型结构,长边端内横向间隔埋设有两加热管,两加热管分别与可控硅调压器连接;在陶瓷底座的短边端上,设置有与长边端垂直的两集热铜块,且两集热铜块与两加热管呈对应设置;在两集热铜块之间设置有两热电偶,且两热电偶一端分别与两路铜导线一端焊接成一个结点,该结点与陶瓷底座的长边端上表面之间夹设有试样,两热电偶另一端穿设在陶瓷底座的短边端内,并连接万用表的温度采集通道;两路铜导线另一端穿过陶瓷底座的短边端,依次连接万用表的电压采集通道和计算机,通过万用表将采集到的试样温度和电压信号通过GPIB接口输入至计算机内实时显示并记录。本发明能在半导体测试领域中广泛应用。 |
申请公布号 |
CN102967624B |
申请公布日期 |
2014.08.27 |
申请号 |
CN201210473642.4 |
申请日期 |
2012.11.20 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
李亮亮;周阳 |
分类号 |
G01N25/20(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N25/20(2006.01)I |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人 |
徐宁;关畅 |
主权项 |
一种Seebeck系数测试装置,它包括温差实现系统和信号采集系统,其特征在于:所述温差实现系统包括一陶瓷底座、两加热管、一可控硅调压器和两集热铜块;所述信号采集系统包括两热电偶、铜导线、一万用表和一计算机;所述陶瓷底座采用由一体成型的长边端和短边端构成的L型结构,所述长边端内横向间隔埋设有所述两加热管,所述两加热管分别与所述可控硅调压器连接;在所述陶瓷底座的短边端上,设置有与所述长边端垂直的所述两集热铜块,且所述两集热铜块与所述两加热管呈对应设置;在所述两集热铜块之间设置有所述两热电偶,且所述两热电偶一端分别与两路所述铜导线一端焊接成一个结点,该结点与所述陶瓷底座的长边端上表面之间夹设有试样,所述两热电偶另一端穿设在所述陶瓷底座的短边端内,并连接所述万用表的温度采集通道;两路所述铜导线另一端穿过所述陶瓷底座的短边端,依次连接所述万用表的电压采集通道和计算机,通过所述万用表将采集到的试样温度和电压信号通过GPIB接口输入至所述计算机内实时显示并记录。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |