发明名称 一种Seebeck系数测试装置
摘要 本发明涉及一种Seebeck系数测试装置,它包括陶瓷底座,陶瓷底座采用由一体成型的长边端和短边端构成的L型结构,长边端内横向间隔埋设有两加热管,两加热管分别与可控硅调压器连接;在陶瓷底座的短边端上,设置有与长边端垂直的两集热铜块,且两集热铜块与两加热管呈对应设置;在两集热铜块之间设置有两热电偶,且两热电偶一端分别与两路铜导线一端焊接成一个结点,该结点与陶瓷底座的长边端上表面之间夹设有试样,两热电偶另一端穿设在陶瓷底座的短边端内,并连接万用表的温度采集通道;两路铜导线另一端穿过陶瓷底座的短边端,依次连接万用表的电压采集通道和计算机,通过万用表将采集到的试样温度和电压信号通过GPIB接口输入至计算机内实时显示并记录。本发明能在半导体测试领域中广泛应用。
申请公布号 CN102967624B 申请公布日期 2014.08.27
申请号 CN201210473642.4 申请日期 2012.11.20
申请人 清华大学 发明人 李亮亮;周阳
分类号 G01N25/20(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01N25/20(2006.01)I
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人 徐宁;关畅
主权项 一种Seebeck系数测试装置,它包括温差实现系统和信号采集系统,其特征在于:所述温差实现系统包括一陶瓷底座、两加热管、一可控硅调压器和两集热铜块;所述信号采集系统包括两热电偶、铜导线、一万用表和一计算机;所述陶瓷底座采用由一体成型的长边端和短边端构成的L型结构,所述长边端内横向间隔埋设有所述两加热管,所述两加热管分别与所述可控硅调压器连接;在所述陶瓷底座的短边端上,设置有与所述长边端垂直的所述两集热铜块,且所述两集热铜块与所述两加热管呈对应设置;在所述两集热铜块之间设置有所述两热电偶,且所述两热电偶一端分别与两路所述铜导线一端焊接成一个结点,该结点与所述陶瓷底座的长边端上表面之间夹设有试样,所述两热电偶另一端穿设在所述陶瓷底座的短边端内,并连接所述万用表的温度采集通道;两路所述铜导线另一端穿过所述陶瓷底座的短边端,依次连接所述万用表的电压采集通道和计算机,通过所述万用表将采集到的试样温度和电压信号通过GPIB接口输入至所述计算机内实时显示并记录。
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