发明名称 Verfahren zur röntgendiffraktometrischen Analyse bei unterschiedlichen Wellenlängen ohne Wechsel der Röntgenquelle
摘要 Verfahren zur Durchführung einer röntgendiffraktrometrischen Analyse einer kristallinen und/oder amorphen Probe, mittels eines röntgenoptischen Aufbaus mit einer Röntgenquelle, die eine aus einer Mischanordnung mindestens zweier Metalle aufgebaute Röntgenanode aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass ein energiedispersiver Halbleiterdetektor zur Aufnahme von Zählereignissen aus der von der Probe kommenden Röntgenstrahlung verwendet wird, dass für die Röntgenanode als Mischanordnung mindestens zweier Metalle eine gesinterte Pulvermischung verwendet wird, dass die aufzunehmenden Zählereignisse in mehreren, vom Benutzer frei im Energiespektrum festsetzbaren Bereichen gezählt werden und dass von der Probe gebeugte oder gestreute Röntgenstrahlung mit unterschiedlichen charakteristischen Energielinien, die zu den Metallen der verwendeten Mischanordnung der Röntgenanode gehören, simultan während eines Winkelscans aufgenommen wird.
申请公布号 DE102010043028(C5) 申请公布日期 2014.08.21
申请号 DE20101043028 申请日期 2010.10.27
申请人 BRUKER AXS GMBH 发明人 SCHIPPER, ROLF;LANGE, JOACHIM
分类号 G01N23/20;H01J35/08 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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