发明名称 Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines Bauelements
摘要 Ein Bauelement umfasst einen Halbleiterchip mit einer Vorderseite, einer Rückseite und einer Seitenfläche, die sich von der Rückseite zur Vorderseite erstreckt. Die Seitenfläche umfasst eine erste Region und eine zweite Region, wobei ein Niveau der ersten Region von einem Niveau der zweiten Region verschieden ist. Das Bauelement umfasst ferner ein elektrisch leitendes Material, das auf der Rückseite des Halbleiterchips und auf der ersten Region der Seitenfläche angeordnet ist, wobei die zweite Region nicht vom elektrisch leitenden Material bedeckt ist.
申请公布号 DE102014102112(A1) 申请公布日期 2014.08.21
申请号 DE201410102112 申请日期 2014.02.19
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 VIELEMEYER, MARTIN HENNING
分类号 H01L29/06;H01L21/306;H01L29/40 主分类号 H01L29/06
代理机构 代理人
主权项
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